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Atom Probe Microscopy - Springer Series in Materials Science 2012 edition
Baptiste Gault
Atom Probe Microscopy - Springer Series in Materials Science 2012 edition
Baptiste Gault
This book covers all facets of atom probe microscopy-including field ion microscopy, field desorption microscopy and a strong emphasis on atom probe tomography. Atom Probe Microscopy is aimed at researchers of all experience levels.
490 pages, 78 black & white illustrations, 116 colour illustrations, 24 black & white tables, 3 colo
Médias | Livres Hardcover Book (Livre avec dos et couverture rigide) |
Validé | 14 mai 2012 |
ISBN13 | 9781461434351 |
Éditeurs | Springer-Verlag New York Inc. |
Pages | 396 |
Dimensions | 180 × 244 × 21 mm · 748 g |
Langue et grammaire | English |
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